IPC分类号:
G01K114
G01K102
G08C1702
法律状态
| 2005-09-14 |
实质审查的生效
| 实质审查的生效 |
| 2007-05-16 |
发明专利申请公布后的视为撤回
| 发明专利申请公布后的视为撤回 |
| 2005-07-20 |
公开
| 公开 |
共 50 条
[8]
温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法
[P].
圆山重直
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
圆山重直
;
冈部孝裕
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
冈部孝裕
;
井関祐也
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
井関祐也
;
野中崇
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
野中崇
;
古川琢磨
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
古川琢磨
;
细川靖
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
细川靖
;
田畑裕太郎
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
田畑裕太郎
;
松舘直史
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
松舘直史
;
中岛利宪
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
中岛利宪
;
东雅也
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
东雅也
;
折戸学
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
折戸学
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日本专利 :CN115917273B ,2025-08-26