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评估颗粒状物体质量的装置和方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN00107017.7
申请日：
2000-04-24
公开(公告)号：
CN1271857A
公开(公告)日：
2000-11-01
发明(设计)人：
佐竹觉
池田学
土井贵广
高下悟
申请人：
申请人地址：
日本东京都
IPC主分类号：
G01N2185
IPC分类号：
代理机构：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人：
陈霁;王忠忠
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2007-01-24 | 授权 | 授权 |
| 2011-06-29 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101083090595 IPC(主分类):G01N 21/85 专利号:ZL001070177 申请日:20000424 授权公告日:20070124 终止日期:20100424 |
| 2000-11-01 | 公开 | 公开 |
| 2002-05-29 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 |
| 2001-12-12 | 著录事项变更 | 著录事项变更 变更事项:申请人 变更前:株式会社佐竹制作所 变更后:株式会社佐竹 |