一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法

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申请号
CN202210098998.8
申请日
2022-01-25
公开(公告)号
CN114279693A
公开(公告)日
2022-04-05
发明(设计)人
孟永宏 朱宗洋 杨良
申请人
申请人地址
102600 北京市大兴区北京经济技术开发区西环南路26号院30号楼4层402C
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
代理机构
北京维正专利代理有限公司 11508
代理人
郑雷;庄博强
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统的使用方法 [P]. 
孟永宏 ;
朱宗洋 ;
杨良 .
中国专利 :CN114279693B ,2025-03-07
[2]
一种入射角扫描的样品相位延迟测量系统 [P]. 
孟永宏 ;
朱宗洋 ;
杨良 .
中国专利 :CN216695518U ,2022-06-07
[3]
一种宽入射角相位延迟器 [P]. 
肖志全 .
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[4]
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[5]
光线入射角度的测量系统及方法 [P]. 
闫钰锋 ;
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周见红 ;
王世峰 ;
宋鸿飞 ;
牟达 ;
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[6]
一种相位延迟测量用样品 [P]. 
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[7]
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[8]
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[9]
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宋菲君 ;
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[10]
基于锥形透镜的光线入射角度测量系统与方法 [P]. 
王克逸 ;
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