半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710228370.4
申请日
2017-04-10
公开(公告)号
CN108695375A
公开(公告)日
2018-10-23
发明(设计)人
李勇
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L2906
IPC分类号
H01L21336 H01L2978
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
吴敏
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN108695254B ,2018-10-23
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张严 .
中国专利 :CN119653806B ,2025-10-03
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张严 .
中国专利 :CN119653806A ,2025-03-18
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN109309088A ,2019-02-05
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
纪世良 ;
肖杏宇 ;
张海洋 .
中国专利 :CN114068704B ,2024-03-22
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
纪世良 ;
肖杏宇 ;
张海洋 .
中国专利 :CN114068704A ,2022-02-18
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张海洋 ;
纪世良 ;
刘盼盼 .
中国专利 :CN113327857A ,2021-08-31
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
郑二虎 .
中国专利 :CN116031259B ,2025-09-05
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN110890279A ,2020-03-17
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
金吉松 .
中国专利 :CN115602717A ,2023-01-13