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一种测量精度高的激光测厚仪
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020569740.8
申请日：
2020-04-17
公开(公告)号：
CN211740124U
公开(公告)日：
2020-10-23
发明(设计)人：
王晶
申请人：
申请人地址：
201210 上海市浦东新区万祥镇宏祥北路83弄1-42号20幢D区786室
IPC主分类号：
G01B1106
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-10-23 | 授权 | 授权 |