晶片图数据核对系统以及晶片图数据核对方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280071771.9

申请日：

2012-03-29

公开(公告)号：

CN104246999A

公开(公告)日：

2014-12-24

发明(设计)人：

保坂英希

申请人：

申请人地址：

日本爱知县知立市

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

H01L2102

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

穆德骏;谢丽娜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-11	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101600904131 IPC(主分类):H01L 21/66 专利申请号:2012800717719 申请日:20120329
2014-12-24	公开	公开
2018-10-02	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/66 变更事项:专利权人变更前:富士机械制造株式会社变更后:株式会社富士变更事项:地址变更前:日本爱知县知立市变更后:日本爱知县知立市
2018-05-08	授权	授权

共 50 条

[1]

数据核对装置、数据核对系统以及数据核对方法 [P].

长谷川瞬也 .

日本专利 :CN116710858B ,2024-05-03

[2]

用于电路图数据核对的计算机系统及电路图数据核对方法 [P].

魏琮峰 ;

张育豪 .

中国专利 :CN103136395A ,2013-06-05

[3]

人物核对装置、人物核对系统以及人物核对方法 [P].

源田大辅 .

中国专利 :CN1810206A ,2006-08-02

[4]

数据处理方法以及数据核对系统 [P].

高磊 ;

吕彪 ;

祝顺民 ;

蒋江伟 .

中国专利 :CN114676145A ,2022-06-28

[5]

部件核对方法和部件核对系统 [P].

清水遵惠 ;

金井一宪 ;

山村达雄 ;

镰仓贤二 .

中国专利 :CN109952018A ,2019-06-28

[6]

部件核对方法和部件核对系统 [P].

清水遵惠 ;

金井一宪 ;

山村达雄 ;

镰仓贤二 .

中国专利 :CN104812229B ,2015-07-29

[7]

印鉴核对系统、印鉴核对装置以及印鉴核对方法 [P].

白根恭子 .

中国专利 :CN102646239A ,2012-08-22

[8]

部件核对方法和部件核对系统 [P].

角英树 .

中国专利 :CN104812230A ,2015-07-29

[9]

个人核对装置及个人核对方法 [P].

宫田博文 ;

岩尾博之 ;

宫本刚 .

中国专利 :CN100419766C ,2002-11-06

[10]

通过数据核对对财务进行自主核对的数据核对系统 [P].

汤舒微 .

中国专利 :CN114677206A ,2022-06-28

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