集成电路性能测试试验板

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN02353696.9
申请日
2002-10-11
公开(公告)号
CN3297531D
公开(公告)日
2003-05-28
发明(设计)人
龚德俊 朱素兰 李思忍 徐永平 于新生
申请人
申请人地址
266071山东省青岛市南海路7号
IPC主分类号
1499
IPC分类号
代理机构
沈阳科苑专利代理有限责任公司
代理人
许宗富;周秀梅
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路测试板的可调电源以及集成电路测试板 [P]. 
杨钊辉 ;
钟锋浩 ;
袁晓航 .
中国专利 :CN112114246A ,2020-12-22
[2]
集成电路测试板的可调电源以及集成电路测试板 [P]. 
杨钊辉 ;
钟锋浩 ;
袁晓航 .
中国专利 :CN213633703U ,2021-07-06
[3]
集成电路测试载板 [P]. 
罗占廷 ;
胡运鸿 .
中国专利 :CN221883707U ,2024-10-22
[4]
集成电路测试载板 [P]. 
沈琦崧 ;
余玉龙 .
中国专利 :CN205427134U ,2016-08-03
[5]
集成电路测试载板 [P]. 
沈琦崧 ;
余玉龙 .
中国专利 :CN205229194U ,2016-05-11
[6]
集成电路测试载板 [P]. 
袁根琦 .
中国专利 :CN207993805U ,2018-10-19
[7]
集成电路测试验证设备 [P]. 
范军旗 ;
贾玉新 .
中国专利 :CN307718892S ,2022-12-09
[8]
堵漏性能测试试验装置 [P]. 
赵建成 ;
王会元 ;
王辉 .
中国专利 :CN208984288U ,2019-06-14
[9]
测试集成电路的针板 [P]. 
瓦尔茨·特赖伯格 ;
帕特·乔亚尔 ;
莱斯利·弗利格曼 .
中国专利 :CN307447227S ,2022-07-12
[10]
测试集成电路的针板 [P]. 
瓦尔茨·特赖伯格 ;
帕特·乔亚尔 ;
莱斯利·弗利格曼 .
中国专利 :CN307447242S ,2022-07-12