深度测量工具仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620927399.2

申请日：

2016-08-18

公开(公告)号：

CN205940703U

公开(公告)日：

2017-02-08

发明(设计)人：

金建成

申请人：

申请人地址：

325000 浙江省温州市温州经济技术开发区滨海园区香樟路11号望海公寓18幢101室

IPC主分类号：

G01F2300

IPC分类号：

E02D3300 E21B4704

代理机构：

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法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-02-08	授权	授权
2020-07-31	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01F 23/00 申请日:20160818 授权公告日:20170208 终止日期:20190818

共 50 条

[1]

字体深度测量工具 [P].

王建军 .

中国专利 :CN201731848U ,2011-02-02

[2]

倒角深度测量工具 [P].

秦正伟 ;

丁勇刚 ;

孟海峰 .

中国专利 :CN202393330U ,2012-08-22

[3]

深度测量工具 [P].

徐王卫 ;

贝秋生 ;

何朝辉 ;

李一峰 ;

胥根平 ;

周海洋 ;

韩永红 ;

熊辉 ;

董华勇 .

中国专利 :CN216081271U ,2022-03-18

[4]

深度测量工具 [P].

徐王卫 ;

贝秋生 ;

何朝辉 ;

李一峰 ;

胥根平 ;

周海洋 ;

韩永红 ;

熊辉 ;

董华勇 .

中国专利 :CN113483636A ,2021-10-08

[5]

盲孔深度测量工具 [P].

徐金荣 ;

李晓峰 ;

崔洪坤 .

中国专利 :CN204461315U ,2015-07-08

[6]

微小空间深度测量工具 [P].

刘庆上 ;

王迪 ;

王权锋 ;

孙晓波 .

中国专利 :CN204924142U ,2015-12-30

[7]

孔口倒角深度测量工具 [P].

聂家超 ;

张登才 ;

文学 ;

冯伟 ;

易泰勋 ;

刘健 ;

吕滔 ;

杨婷 ;

王嘉锟 .

中国专利 :CN204027502U ,2014-12-17

[8]

表面缺陷深度测量工具 [P].

赵凯 ;

李长春 ;

赵伟志 ;

汤振宇 ;

姜波 .

中国专利 :CN216348502U ,2022-04-19

[9]

一种盲孔深度测量工具 [P].

郭海军 .

中国专利 :CN208567745U ,2019-03-01

[10]

一种深度测量工具 [P].

贾琪林 ;

杨超林 ;

莫瑜 .

中国专利 :CN216012392U ,2022-03-11

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