共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种芯片性能测试系统与测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110683262.2
申请日：
2021-06-21
公开(公告)号：
CN113447792A
公开(公告)日：
2021-09-28
发明(设计)人：
成璇璇
童超
蔡敬
张博
胡毅
申请人：
申请人地址：
430074 湖北省武汉市洪山区邮科院路88号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341
代理人：
何婷
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-09-28 | 公开 | 公开 |
| 2021-10-22 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210621 |