一种用于地表粗糙度观测的近景摄影测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN201710204647.X
申请日
2017-03-30
公开(公告)号
CN106989731B
公开(公告)日
2017-07-28
发明(设计)人
陈权 李震 陶浩然 李治显
申请人
申请人地址
100094 北京市海淀区邓庄南路9号
IPC主分类号
G01C1108
IPC分类号
代理机构
北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309
代理人
陈霁
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法 [P]. 
杨习荣 .
中国专利 :CN102135423A ,2011-07-27
[2]
一种测量装置、测量方法及地表粗糙度测量方法 [P]. 
刘俊峰 ;
陈仁升 ;
韩春坛 ;
宋耀选 .
中国专利 :CN111998833A ,2020-11-27
[3]
一种地表粗糙度测量系统及测量方法 [P]. 
王国军 ;
邵芸 ;
宫华泽 ;
张风丽 ;
刘龙 .
中国专利 :CN102706295B ,2012-10-03
[4]
一种地表粗糙度的测量装置 [P]. 
沈禹颖 ;
牛伊宁 ;
南志标 .
中国专利 :CN101603822B ,2009-12-16
[5]
地表粗糙度参数测量装置及方法 [P]. 
陈权 ;
李震 ;
曾江源 .
中国专利 :CN103063168B ,2013-04-24
[6]
先进的粗糙度测量方法 [P]. 
阿维拉姆·塔母 ;
戴维·科林·蔡司 .
中国专利 :CN1906478B ,2007-01-31
[7]
一种土壤表面粗糙度测量方法 [P]. 
陈彦 ;
童玲 ;
贾明权 ;
庞少峰 .
中国专利 :CN103940381A ,2014-07-23
[8]
一种微地形地表粗糙度测量装置 [P]. 
肖波 ;
胡克林 .
中国专利 :CN205748243U ,2016-11-30
[9]
一种地表粗糙度测量仪 [P]. 
张成才 ;
杨峰 ;
刘吉胜 ;
罗蔚然 ;
彭凯 ;
郭少华 .
中国专利 :CN214842988U ,2021-11-23
[10]
一种微地形地表粗糙度测量装置 [P]. 
范天鹏 ;
季霞 ;
林黎明 ;
董涛 ;
季鹏 .
中国专利 :CN213041164U ,2021-04-23