微力测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320477210.0

申请日：

2013-08-06

公开(公告)号：

CN203455118U

公开(公告)日：

2014-02-26

发明(设计)人：

于立娟牛亚楠张学成王海军

申请人：

申请人地址：

136200 吉林省长春市南关区前进大街2699号

IPC主分类号：

G01L100

IPC分类号：

G01L108

代理机构：

长春菁华专利商标代理事务所 22210

代理人：

南小平

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101626677156 IPC(主分类):G01L 1/00 专利号:ZL2013204772100 申请日:20130806 授权公告日:20140226 终止日期:20140806
2014-02-26	授权	授权

共 50 条

[1]

微力测量装置 [P].

于立娟 ;

牛亚楠 ;

张学成 ;

王海军 .

中国专利 :CN103389174A ,2013-11-13

[2]

微力测量装置 [P].

纪平鑫 ;

祝新宇 ;

惠亚军 ;

李小玲 ;

陈学军 ;

陈卓 ;

白纯洁 ;

王晓勇 ;

陈鹏 ;

孙永军 ;

王超 ;

张辉 ;

冯勇 .

中国专利 :CN203732187U ,2014-07-23

[3]

微力测量装置 [P].

刘泽 ;

康勇平 .

中国专利 :CN120628366A ,2025-09-12

[4]

孔微力测量装置的测量头机构 [P].

包万红 ;

王虎 ;

陈珏然 .

中国专利 :CN201780097U ,2011-03-30

[5]

差动式水平微力测量装置 [P].

王勇 ;

刘焕进 ;

姜礼杰 ;

尹鹏飞 ;

滑志龙 ;

杨科 .

中国专利 :CN202153169U ,2012-02-29

[6]

一种微位移测量装置 [P].

王宇 ;

卢增雄 ;

齐月静 ;

苏佳妮 ;

齐威 ;

杨光华 ;

张清洋 ;

李兵 .

中国专利 :CN206905706U ,2018-01-19

[7]

一种测量微位移的装置 [P].

林国淙 ;

张进修 .

中国专利 :CN2424444Y ,2001-03-21

[8]

差动式垂直微力测量装置 [P].

王勇 ;

刘焕进 ;

杨科 ;

滑志龙 ;

尹鹏飞 ;

姜礼杰 .

中国专利 :CN202153164U ,2012-02-29

[9]

孔垂直度微力测量装置 [P].

李振旗 ;

包万红 ;

吕艳坤 ;

陈珏然 .

中国专利 :CN101354235A ,2009-01-28

[10]

亚微牛顿级力测量装置 [P].

于鹏 ;

董再励 ;

缪磊 ;

刘连庆 ;

刘意杨 ;

王光宏 .

中国专利 :CN201096557Y ,2008-08-06

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