混合外差式可溯源精测尺He-Ne激光测距装置与方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410263608.3

申请日：

2014-06-14

公开(公告)号：

CN104035086A

公开(公告)日：

2014-09-10

发明(设计)人：

杨宏兴谭久彬胡鹏程

申请人：

申请人地址：

150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

IPC主分类号：

G01S1112

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-09-10	公开	公开
2016-07-06	授权	授权
2014-10-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101587394568 IPC(主分类):G01S 11/12 专利申请号:2014102636083 申请日:20140614

共 28 条

[1]

可溯源超外差式精测尺混合激光器测距装置与方法 [P].

杨宏兴 ;

谭久彬 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN104133207B ,2014-11-05

[2]

高精度同步混合外差式相位激光测距装置与方法 [P].

杨宏兴 ;

谭久彬 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN104155643A ,2014-11-19

[3]

基于可溯源同步多测尺的混合激光器测距装置与方法 [P].

杨宏兴 ;

谭久彬 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN105318839A ,2016-02-10

[4]

基于可溯源精测尺的半导体激光器测距装置与方法 [P].

谭久彬 ;

杨宏兴 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN104034264A ,2014-09-10

[5]

基于可溯源同步测尺的混合双光源激光测距装置与方法 [P].

谭久彬 ;

杨宏兴 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN104155642B ,2014-11-19

[6]

基于可溯源同步测尺的双纵模激光测距装置与方法 [P].

杨宏兴 ;

谭久彬 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN104166131A ,2014-11-26

[7]

抗光学混叠的可溯源精测尺相位激光测距装置与方法 [P].

杨宏兴 ;

谭久彬 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN104034265B ,2014-09-10

[8]

抗光学混叠的可溯源精测尺半导体激光测距装置与方法 [P].

谭久彬 ;

杨宏兴 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN104035089B ,2014-09-10

[9]

超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法 [P].

杨宏兴 ;

谭久彬 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN104049248A ,2014-09-17

[10]

抗多频混叠的可溯源同步测尺双光源激光测距装置与方法 [P].

谭久彬 ;

杨宏兴 ;

胡鹏程 .

中国专利 :CN104035088B ,2014-09-10