一种微带测试纳米薄膜微波电磁参数装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610539649.X

申请日：

2016-07-11

公开(公告)号：

CN106018973A

公开(公告)日：

2016-10-12

发明(设计)人：

肖芬张俊明陈先言李学漪柳清伙刘海

申请人：

申请人地址：

361005 福建省厦门市思明南路422号

IPC主分类号：

G01R2726

IPC分类号：

G01R3312

代理机构：

厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200

代理人：

马应森

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 27/26 申请日:20160711 授权公告日:20181019 终止日期:20190711
2016-10-12	公开	公开
2016-11-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101687258893 IPC(主分类):G01R 27/26 专利申请号:201610539649X 申请日:20160711
2018-10-19	授权	授权

共 50 条

[1]

一种纳米薄膜微波电磁参数测试装置 [P].

张俊明 ;

肖芬 ;

陈先言 ;

李学漪 ;

柳清伙 ;

刘海 .

中国专利 :CN205786867U ,2016-12-07

[2]

微波电磁参数三维测试系统及其方法 [P].

温维佳 ;

胡传灯 .

中国专利 :CN112098732A ,2020-12-18

[3]

一种介质材料电磁参数测量装置 [P].

刘海 ;

张俊明 ;

肖芬 ;

柳清伙 .

中国专利 :CN206848193U ,2018-01-05

[4]

一种吸波材料电磁参数的同轴测试装置及自动测试方法 [P].

江智渊 ;

余明 ;

肖芬 ;

陈先言 ;

阙永祥 ;

刘星 ;

林媛 .

中国专利 :CN103293418A ,2013-09-11

[5]

微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法 [P].

肖芬 ;

余明 ;

阙永祥 ;

江智渊 ;

陈先言 ;

刘星 .

中国专利 :CN103323677A ,2013-09-25

[6]

一种介质材料电磁参数测量装置及测量方法 [P].

刘海 ;

张俊明 ;

肖芬 ;

柳清伙 .

中国专利 :CN107091847A ,2017-08-25

[7]

微波材料电磁参数及屏蔽性能的带状线测试方法 [P].

李恩 ;

韩利存 ;

郭高凤 ;

曾敏慧 ;

戈弋 ;

徐芳海 .

中国专利 :CN104111378A ,2014-10-22

[8]

一种带状线谐振器及微波薄膜材料电磁参数测试装置 [P].

李恩 ;

郭高凤 ;

张其劭 ;

陆海鹏 ;

梁迪飞 ;

邓龙江 .

中国专利 :CN100373689C ,2006-07-12

[9]

一种微带器件测试系统 [P].

邓龙江 ;

黄崇维 ;

谢海岩 ;

汪晓光 ;

陈良 ;

梁迪飞 ;

陆海涛 ;

胡金涛 ;

高天乐 .

中国专利 :CN104849593A ,2015-08-19

[10]

一种石墨烯材料电磁参数测试系统、测试方法和测试夹具 [P].

孙新 ;

王桂明 ;

张久霖 ;

巢增明 .

中国专利 :CN108362763A ,2018-08-03

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