一种DDR2/DDR3存储器的快速检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810671129.3
申请日
2018-06-26
公开(公告)号
CN110647436A
公开(公告)日
2020-01-03
发明(设计)人
杨海涛 黄佳 张伟彬
申请人
申请人地址
100074 北京市丰台区云岗北区西里1号院
IPC主分类号
G06F1126
IPC分类号
代理机构
核工业专利中心 11007
代理人
孙成林
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
DDR3存储器 [P]. 
颜军 ;
占连样 ;
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[2]
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[4]
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陈像 ;
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[5]
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李鑫 ;
张若寒 ;
张召 ;
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[8]
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[9]
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吴志强 ;
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金军 ;
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李勇 ;
张琦 ;
李康毅 ;
崔泓 ;
周剑峰 ;
谢永海 .
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[10]
基于FPGA的外扩DDR2的读写方法及基于FPGA的外扩DDR2颗粒存储器 [P]. 
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