非接触纳米薄膜张力测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202023343639.X

申请日：

2020-12-30

公开(公告)号：

CN214066757U

公开(公告)日：

2021-08-27

发明(设计)人：

刘科海杨秀华杨方友张超陈益王恩哥

申请人：

申请人地址：

523000 广东省东莞市松山湖大学创新城A1栋

IPC主分类号：

G01N308

IPC分类号：

G01N320 G01N302 G01M500

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

余菲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-27	授权	授权

共 50 条

[1]

非接触纳米薄膜张力测试系统和方法 [P].

刘科海 ;

杨秀华 ;

杨方友 ;

张超 ;

陈益 ;

王恩哥 .

中国专利 :CN112730067A ,2021-04-30

[2]

张力测试系统及张力测试方法 [P].

颜吉亮 ;

沈兴继 ;

严胜毅 .

中国专利 :CN119374775A ,2025-01-28

[3]

隔膜张力测试系统 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN222460893U ,2025-02-11

[4]

胶带的张力测试系统和测试方法 [P].

易治权 .

中国专利 :CN113252226A ,2021-08-13

[5]

一种张力检测装置及张力测试系统 [P].

焦伟 ;

吴振康 ;

李毅鹏 ;

闫红庆 ;

王文斌 ;

曾维强 .

中国专利 :CN114608738A ,2022-06-10

[6]

非接触式试件表面测试系统 [P].

胡敬礼 ;

李中山 ;

陈龙 ;

杨守建 ;

赵磊 .

中国专利 :CN102628674A ,2012-08-08

[7]

非接触芯片测试系统与方法 [P].

程景全 ;

秦龙 ;

段人杰 ;

曾为民 ;

卢裕階 ;

刘晶晶 ;

陶辉 .

中国专利 :CN104133169A ,2014-11-05

[8]

纳米薄膜静电疲劳测试方法 [P].

刘科海 ;

杨秀华 ;

张超 ;

杨方友 ;

陈益 ;

王恩哥 .

中国专利 :CN112763359A ,2021-05-07

[9]

一种用于张力测量的五滑轮张力测试系统 [P].

马建峰 ;

刘谣谣 .

中国专利 :CN113074857A ,2021-07-06

[10]

非接触式模态测试系统和方法 [P].

吴志刚 ;

张仁嘉 ;

周礼洋 ;

马成骥 .

中国专利 :CN103048103A ,2013-04-17

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