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一种闪存芯片的测试平台
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110114641.X
申请日
:
2021-01-26
公开(公告)号
:
CN112881893A
公开(公告)日
:
2021-06-01
发明(设计)人
:
王玉伟
申请人
:
申请人地址
:
518100 广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区植物园路148号第三栋一楼
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
北京隆源天恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11473
代理人
:
吴航
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-06-01
公开
公开
2021-06-18
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210126
共 50 条
[1]
一种闪存芯片的测试平台
[P].
王玉伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王玉伟
.
中国专利
:CN214539895U
,2021-10-29
[2]
一种闪存芯片的测试装置
[P].
王玉伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王玉伟
.
中国专利
:CN214539893U
,2021-10-29
[3]
一种闪存芯片的测试装置
[P].
王玉伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王玉伟
.
中国专利
:CN112863590A
,2021-05-28
[4]
一种闪存芯片的测试装置
[P].
王玉伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
王玉伟
.
中国专利
:CN112863590B
,2024-07-30
[5]
一种闪存芯片的测试方法
[P].
王玉伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王玉伟
.
中国专利
:CN112863587A
,2021-05-28
[6]
一种闪存芯片的测试方法
[P].
王玉伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
王玉伟
.
中国专利
:CN112863587B
,2024-08-23
[7]
一种闪存芯片的测试方法和闪存芯片
[P].
苏志强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏志强
;
舒清明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
舒清明
.
中国专利
:CN102592679A
,2012-07-18
[8]
一种闪存芯片测试机
[P].
江小俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
江小俊
;
乐群英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群英
;
乐群建
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群建
;
黄传红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
黄传红
.
中国专利
:CN222734680U
,2025-04-08
[9]
一种闪存芯片测试机
[P].
王永安
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王永安
.
中国专利
:CN207937563U
,2018-10-02
[10]
一种闪存芯片测试机
[P].
王玉伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
王玉伟
;
邹小玲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
邹小玲
;
孙丹归
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
孙丹归
;
郑双桥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
郑双桥
.
中国专利
:CN220691719U
,2024-03-29
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