一种闪存芯片的测试平台

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专利类型
发明
申请号
CN202110114641.X
申请日
2021-01-26
公开(公告)号
CN112881893A
公开(公告)日
2021-06-01
发明(设计)人
王玉伟
申请人
申请人地址
518100 广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区植物园路148号第三栋一楼
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
北京隆源天恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11473
代理人
吴航
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种闪存芯片的测试平台 [P]. 
王玉伟 .
中国专利 :CN214539895U ,2021-10-29
[2]
一种闪存芯片的测试装置 [P]. 
王玉伟 .
中国专利 :CN214539893U ,2021-10-29
[3]
一种闪存芯片的测试装置 [P]. 
王玉伟 .
中国专利 :CN112863590A ,2021-05-28
[4]
一种闪存芯片的测试装置 [P]. 
王玉伟 .
中国专利 :CN112863590B ,2024-07-30
[5]
一种闪存芯片的测试方法 [P]. 
王玉伟 .
中国专利 :CN112863587A ,2021-05-28
[6]
一种闪存芯片的测试方法 [P]. 
王玉伟 .
中国专利 :CN112863587B ,2024-08-23
[7]
一种闪存芯片的测试方法和闪存芯片 [P]. 
苏志强 ;
舒清明 .
中国专利 :CN102592679A ,2012-07-18
[8]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 ;
黄传红 .
中国专利 :CN222734680U ,2025-04-08
[9]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
王永安 .
中国专利 :CN207937563U ,2018-10-02
[10]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
王玉伟 ;
邹小玲 ;
孙丹归 ;
郑双桥 .
中国专利 :CN220691719U ,2024-03-29