光学测量设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110423282.2

申请日：

2011-12-16

公开(公告)号：

CN102539432B

公开(公告)日：

2012-07-04

发明(设计)人：

冈部宪嗣长滨龙也金子展也

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01N2184

IPC分类号：

G01N2164

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-04-29	授权	授权
2013-01-30	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101390722103 IPC(主分类):G01N 21/84 专利申请号:2011104232822 申请日:20111216
2012-07-04	公开	公开

共 50 条

[1]

光学测量设备 [P].

S·瓦德曼 .

中国专利 :CN101346620A ,2009-01-14

[2]

光学测量设备 [P].

南川义久 ;

武井英人 ;

末村悠祐 .

中国专利 :CN114518069A ,2022-05-20

[3]

光学测量设备 [P].

S·沃德曼 .

中国专利 :CN101427125A ,2009-05-06

[4]

光学测量设备 [P].

今西慎悟 ;

新井健雄 ;

堂胁优 .

中国专利 :CN101726461A ,2010-06-09

[5]

光学测量设备 [P].

K·尼古拉斯 ;

W·乔纳森 ;

D·佛罗莱恩 .

中国专利 :CN306020710S ,2020-08-28

[6]

光学测量设备 [P].

迈克尔·库斯曼 ;

奥雷利亚·史戴尔马克 ;

马库斯·哈恩 ;

马库斯·雷哈德 ;

塞巴斯蒂安·明克 ;

安德里亚斯·约纳克 ;

沃尔克·巴尔 ;

海因茨·如德 .

中国专利 :CN109416317B ,2019-03-01

[7]

光学测量设备 [P].

叶华平 ;

贺金龙 ;

陈鲁 ;

张嵩 .

中国专利 :CN307232885S ,2022-04-05

[8]

光学测量设备 [P].

谢孟颖 ;

余威征 ;

何孝恒 ;

张谦成 ;

陈志升 ;

张玉清 .

中国专利 :CN101769721A ,2010-07-07

[9]

光学测量设备 [P].

金原圭吾 ;

加藤隆介 .

中国专利 :CN109211106A ,2019-01-15

[10]

光学测量设备 [P].

清水光 ;

锹形武志 .

中国专利 :CN113884470A ,2022-01-04

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