一种非接触式物体三维轮廓光学检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110445209.9

申请日：

2021-04-23

公开(公告)号：

CN113029036A

公开(公告)日：

2021-06-25

发明(设计)人：

李成军翁继东陈龙陶天炯马鹤立王翔吴建贾兴刘盛刚唐隆煌陈书杨康强

申请人：

申请人地址：

621999 四川省绵阳市绵山路64号

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

代理机构：

中国工程物理研究院专利中心 51210

代理人：

冯玲玲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-25	公开	公开
2021-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20210423

共 50 条

[1]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

土谷千加夫 ;

古性裕之 ;

田中慎也 ;

早川泰久 .

中国专利 :CN103080976A ,2013-05-01

[2]

用于三维轮廓的非接触检测装置及方法 [P].

马丁·帕尔梅 ;

斯特凡·里厄曼 ;

彼得·库姆斯泰德特 ;

克里斯蒂安·布劳尔-布尔夏特 ;

贡特尔·诺特尼 .

中国专利 :CN101558283A ,2009-10-14

[3]

一种构架三维检测辅助装置及构架三维检测方法 [P].

刘柏 ;

袁玮 .

中国专利 :CN112857282B ,2021-05-28

[4]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

早川泰久 ;

深田修 .

中国专利 :CN104508726B ,2015-04-08

[5]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

曾兴祥 ;

陶艳 ;

王志林 .

中国专利 :CN118010088A ,2024-05-10

[6]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

早川泰久 ;

深田修 ;

笈木大介 ;

西田雪德 .

中国专利 :CN104508727B ,2015-04-08

[7]

三维物体检测装置以及三维物体检测方法 [P].

深田修 ;

早川泰久 .

中国专利 :CN104509099A ,2015-04-08

[8]

三维物体检测装置以及三维物体检测方法 [P].

深田修 ;

早川泰久 .

中国专利 :CN104509100B ,2015-04-08

[9]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

早川泰久 ;

土谷千加夫 ;

深田修 ;

西田雪德 ;

笈木大介 .

中国专利 :CN103718224B ,2014-04-09

[10]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

深田修 ;

早川泰久 .

中国专利 :CN104246821B ,2014-12-24

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