半导体器件和半导体存储器件

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410056231.0

申请日：

2004-08-05

公开(公告)号：

CN1581490A

公开(公告)日：

2005-02-16

发明(设计)人：

柴山晃德

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

H01L2710

IPC分类号：

H01L2711

代理机构：

永新专利商标代理有限公司

代理人：

夏青

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-04-20	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-02-16	公开	公开
2006-12-06	授权	授权
2018-08-28	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/10 申请日:20040805 授权公告日:20061206 终止日期:20170805

共 50 条

[1]

半导体器件和半导体存储器件的检测方法 [P].

国清辰也 ;

永久克己 ;

山下恭司 ;

海本博之 ;

小林睦 ;

大谷一弘 .

中国专利 :CN1438688A ,2003-08-27

[2]

半导体存储器件以及半导体器件 [P].

大泽隆 .

中国专利 :CN1469483A ,2004-01-21

[3]

半导体存储器件 [P].

舛冈富士雄 ;

新井绅太郎 .

中国专利 :CN102105978A ,2011-06-22

[4]

存储器件及半导体器件 [P].

山崎舜平 ;

小山润 .

中国专利 :CN106298794A ,2017-01-04

[5]

半导体器件和包括半导体器件的非易失性存储器件 [P].

金鹤善 ;

高秉柱 ;

白圣权 ;

徐载和 ;

李昌宪 .

中国专利 :CN114078975A ,2022-02-22

[6]

半导体存储器件与半导体器件组 [P].

姊崎彻 ;

堤智彦 ;

荒谷达次 ;

儿屿秀之 ;

江间泰示 .

中国专利 :CN100502008C ,2006-01-25

[7]

半导体存储器件 [P].

舛冈富士雄 ;

新井绅太郎 .

中国专利 :CN101933136A ,2010-12-29

[8]

半导体存储器件 [P].

和气宏树 .

中国专利 :CN1542859A ,2004-11-03

[9]

半导体存储器件 [P].

孙龙勋 .

中国专利 :CN113257826A ,2021-08-13

[10]

半导体存储器件 [P].

岩田浩 ;

柴田晃秀 .

中国专利 :CN1639874A ,2005-07-13

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