应答器老化测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810477214.6
申请日
2018-05-17
公开(公告)号
CN108833201A
公开(公告)日
2018-11-16
发明(设计)人
张翔 董永利 刘立楠 刘铁托
申请人
申请人地址
102206 北京市昌平区回龙观镇立业路3号院2号楼1层101
IPC主分类号
H04L1226
IPC分类号
H04B1715 H04B1729 H04B159
代理机构
代理人
法律状态
专利申请权、专利权的转移
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共 50 条
[1]
一种应答器老化过程的测试系统 [P]. 
肖茂波 ;
董晓辉 ;
赵伟宏 ;
吴坎 ;
詹雨博 ;
陈宏然 ;
冯慕白 ;
郭小龙 ;
刘国旭 ;
闫熠 .
中国专利 :CN207184511U ,2018-04-03
[2]
应答器测试系统及测试方法 [P]. 
王舒民 ;
寇永砺 .
中国专利 :CN103200013A ,2013-07-10
[3]
应答器及应答系统 [P]. 
黄文峰 ;
朱鹏宇 .
中国专利 :CN208768062U ,2019-04-19
[4]
应答器和应答器系统 [P]. 
吉尔·蒙森·瓦维克 .
中国专利 :CN1425223A ,2003-06-18
[5]
应答器和应答器系统 [P]. 
吉尔·蒙森·瓦维克 .
中国专利 :CN101567706A ,2009-10-28
[6]
一种应答器测试系统及方法 [P]. 
贾布衣 ;
马向阳 ;
张宝馨 ;
项河山 ;
闫志红 ;
张生文 ;
刘瑞 ;
程帮峰 ;
张明 ;
朱清科 .
中国专利 :CN114421993B ,2024-03-08
[7]
一种应答器测试系统及方法 [P]. 
贾布衣 ;
马向阳 ;
张宝馨 ;
项河山 ;
闫志红 ;
张生文 ;
刘瑞 ;
程帮峰 ;
张明 ;
朱清科 .
中国专利 :CN114421993A ,2022-04-29
[8]
一种应答器高温老化检测系统 [P]. 
吴文涛 ;
李虎 ;
刘杰 ;
周新 ;
吴晶晶 ;
王铮 ;
张校铭 ;
王新磊 ;
刘伟 .
中国专利 :CN213581175U ,2021-06-29
[9]
应答器测试仪及应答器的测试方法 [P]. 
刘梦 ;
许燕文 ;
邹未栋 ;
王明晰 ;
任伟 ;
陈代英 ;
李艾桐 .
中国专利 :CN120017186A ,2025-05-16
[10]
一种有源应答器的测试系统 [P]. 
魏晓飞 ;
王贵春 ;
徐叶 ;
叶轲 ;
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王通 ;
赵宁 ;
李博 ;
邱冬 ;
孙亚熹 ;
谢志国 ;
李岩 ;
柳晓鹏 ;
杨超 ;
朱良 .
中国专利 :CN118018126A ,2024-05-10