基于十轴传感器的格栅位移测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811644577.0

申请日：

2018-12-29

公开(公告)号：

CN109459094A

公开(公告)日：

2019-03-12

发明(设计)人：

张炯代朝霞夏霜胡念佘蕊韩若楠崔新壮张齐鲁

申请人：

申请人地址：

250061 山东省济南市历下区经十路17923号

IPC主分类号：

G01D2102

IPC分类号：

G08C1702

代理机构：

济南圣达知识产权代理有限公司 37221

代理人：

李圣梅

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-12	公开	公开
2019-04-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 21/02 申请日:20181229

共 50 条

[1]

基于十轴传感器的格栅位移测试系统 [P].

张炯 ;

代朝霞 ;

夏霜 ;

胡念 ;

佘蕊 ;

韩若楠 ;

崔新壮 ;

张齐鲁 .

中国专利 :CN209102148U ,2019-07-12

[2]

基于十轴传感器的阻值机敏格栅变形测试系统及方法 [P].

张炯 ;

代朝霞 ;

胡念 ;

夏霜 ;

佘蕊 ;

韩若楠 ;

崔新壮 ;

张齐鲁 .

中国专利 :CN109458924A ,2019-03-12

[3]

基于十轴传感器的阻值机敏格栅变形测试系统 [P].

张炯 ;

代朝霞 ;

胡念 ;

夏霜 ;

佘蕊 ;

韩若楠 ;

崔新壮 ;

张齐鲁 .

中国专利 :CN209181718U ,2019-07-30

[4]

阻值机敏格栅地基位移测试系统及方法 [P].

张炯 ;

明瑞平 ;

代朝霞 ;

崔新壮 ;

佘蕊 ;

马国栋 .

中国专利 :CN108317948A ,2018-07-24

[5]

基于LabVIEW的位移传感器测试系统 [P].

白勤先 ;

芈洪波 .

中国专利 :CN205156843U ,2016-04-13

[6]

一种基于PLC的位移传感器测试系统及测试方法 [P].

宦佳斌 .

中国专利 :CN108255125A ,2018-07-06

[7]

位移传感器及位移传感器系统 [P].

吉田与志一 ;

富野宏纪 .

中国专利 :CN114502909A ,2022-05-13

[8]

位移传感器及位移传感器系统 [P].

吉田与志一 ;

富野宏纪 .

日本专利 :CN114502909B ,2024-08-13

[9]

基于导波共振的传感器及传感器测试系统 [P].

史丽娜 ;

谢常青 ;

牛洁斌 ;

李海亮 ;

刘明 .

中国专利 :CN105044029B ,2015-11-11

[10]

LVDT位移传感器性能测试系统 [P].

王欢 ;

张鹏 .

中国专利 :CN209326558U ,2019-08-30

← 1 2 3 4 5 →