一种芯片测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821658098.X

申请日：

2018-10-12

公开(公告)号：

CN209044018U

公开(公告)日：

2019-06-28

发明(设计)人：

成利宁赵同伟

申请人：

申请人地址：

201611 上海市松江区茸华路211号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237

代理人：

智云

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-28	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试转接设备和芯片测试系统 [P].

于福振 ;

黄征 ;

张文丽 ;

孙铁 ;

杨姣 ;

黄新东 ;

请求不公布姓名 ;

张飞飞 ;

张亮 .

中国专利 :CN221303390U ,2024-07-09

[2]

芯片测试系统 [P].

马茂松 ;

林峰 ;

许小峰 .

中国专利 :CN210835151U ,2020-06-23

[3]

一种芯片测试系统和芯片自动测试台 [P].

黄思琪 ;

郭庆锐 ;

杨全勇 .

中国专利 :CN213457228U ,2021-06-15

[4]

芯片测试系统 [P].

万利剑 .

中国专利 :CN205826813U ,2016-12-21

[5]

一种光纤中继芯片测试系统 [P].

钱向东 .

中国专利 :CN207251622U ,2018-04-17

[6]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[7]

一种芯片测试方法以及芯片测试系统 [P].

张海林 .

中国专利 :CN114518519A ,2022-05-20

[8]

一种芯片测试方法以及芯片测试系统 [P].

张海林 .

中国专利 :CN114518519B ,2025-08-22

[9]

一种芯片测试模块及芯片测试系统 [P].

赵仕斌 ;

钟兴和 ;

喻梦婷 .

中国专利 :CN215641645U ,2022-01-25

[10]

一种芯片测试板及芯片测试系统 [P].

霍微伟 ;

王刚 ;

李长新 ;

萨斌 .

中国专利 :CN207851236U ,2018-09-11

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