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瑕疵识别方法、装置、设备和存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011335994.4
申请日：
2020-11-25
公开(公告)号：
CN112446865A
公开(公告)日：
2021-03-05
发明(设计)人：
汤寅航 林国森
申请人：
申请人地址：
510700 广东省广州市黄埔区光谱中路23号A2栋1001房
IPC主分类号：
G06T700
IPC分类号：
G06T733 G06T790 G06T550
代理机构：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人：
钟扬飞
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-03-05 公开 公开
2021-03-23 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20201125
共 50 条
[1]
瑕疵识别方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
汤寅航 ;
林国森 .
中国专利 :CN112446865B ,2024-08-06
[2]
布匹瑕疵识别方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
李红兵 .
中国专利 :CN119941683A ,2025-05-06
[3]
布面瑕疵识别方法、系统和存储介质 [P]. 
黄思东 .
中国专利 :CN111860579A ,2020-10-30
[4]
布面瑕疵识别方法、系统和存储介质 [P]. 
黄思东 .
中国专利 :CN111860579B ,2024-08-20
[5]
电子汇票瑕疵识别方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
刘锐 .
中国专利 :CN112307750A ,2021-02-02
[6]
标签的瑕疵识别方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
陈枫 ;
田乐乐 ;
高宗 ;
周慧子 ;
陈彦宇 ;
马雅奇 .
中国专利 :CN117333460A ,2024-01-02
[7]
半导体瑕疵识别方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
彭泽钜 ;
彭泽慧 ;
杨灵 ;
阙士芯 ;
廖韵萱 ;
刘羿晟 .
中国专利 :CN113743447A ,2021-12-03
[8]
半导体瑕疵识别方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
彭泽钜 ;
彭泽慧 ;
杨灵 ;
阙士芯 ;
廖韵萱 ;
刘羿晟 .
中国专利 :CN113743447B ,2024-05-17
[9]
瑕疵检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
汤寅航 ;
林国森 .
中国专利 :CN112446864A ,2021-03-05
[10]
识别方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
刘双瑞 ;
唐喆 ;
郭文超 ;
马建强 ;
许敏丰 .
中国专利 :CN113515981A ,2021-10-19
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