一种光纤光栅反射率测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110914520.3

申请日：

2021-08-10

公开(公告)号：

CN113640252A

公开(公告)日：

2021-11-12

发明(设计)人：

冷卓燕古杨戴立伟张慧黄中亚胡国勇闫大鹏

申请人：

申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号

IPC主分类号：

G01N2147

IPC分类号：

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

黄灵飞

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-24	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01N 21/47 登记生效日:20211214 变更事项:申请人变更前权利人:武汉锐科光纤激光技术股份有限公司变更后权利人:武汉锐科光纤激光技术股份有限公司变更事项:地址变更前权利人:430000 湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号变更后权利人:430000 湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号变更事项:申请人变更后权利人:湖北光谷实验室
2021-11-12	公开	公开
2021-11-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/47 申请日:20210810

共 50 条

[1]

弱反射率光纤光栅阵列的反射率测量装置及方法 [P].

顾敏学 ;

李端明 ;

归宏猛 ;

胡江飞 ;

刘盛春 .

中国专利 :CN119880355A ,2025-04-25

[2]

一种反射率编码的光纤光栅传感系统及测量方法 [P].

刘繄 ;

陈一奇 ;

宋涵 ;

李丰玮 ;

张浩然 .

中国专利 :CN119290046A ,2025-01-10

[3]

一种反射率编码的光纤光栅传感系统及测量方法 [P].

刘繄 ;

陈一奇 ;

宋涵 ;

李丰玮 ;

张浩然 .

中国专利 :CN119290046B ,2025-03-25

[4]

精确测量弱光纤光栅反射率的方法 [P].

徐团伟 ;

李芳 ;

刘育梁 .

中国专利 :CN102323042A ,2012-01-18

[5]

一种制作高精度多波长弱反射率光纤光栅阵列装置及方法 [P].

张海兵 ;

申和平 .

中国专利 :CN104536081A ,2015-04-22

[6]

精确测量光纤光栅反射率的方法 [P].

赵耀 ;

韩正英 ;

高业胜 ;

李国超 .

中国专利 :CN102829958A ,2012-12-19

[7]

一种反射率测量调试装置、方法及反射率测量方法 [P].

姜博宇 .

中国专利 :CN109612968B ,2024-07-26

[8]

一种反射率测量调试装置、方法及反射率测量方法 [P].

姜博宇 .

中国专利 :CN109612968A ,2019-04-12

[9]

一种制作高精度多波长弱反射率光纤光栅阵列装置 [P].

张海兵 ;

申和平 .

中国专利 :CN204422808U ,2015-06-24

[10]

海底底质反射率测量装置及测量方法 [P].

许占堂 ;

赵俊 ;

杨跃忠 ;

李彩 ;

周雯 ;

曾凯 ;

曹文熙 .

中国专利 :CN108458993A ,2018-08-28

← 1 2 3 4 5 →