一种用于衍射探测设备的密封测试样品台

被引：0

申请号：

CN202220734572.2

申请日：

2022-03-31

公开(公告)号：

CN217277982U

公开(公告)日：

2022-08-23

发明(设计)人：

张吉东孟圣斐宋新月

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴江区东太湖生态旅游度假区（太湖新城）简村路100号苏州湾智慧信息产业园17层1701室06号工位（集群登记）

IPC主分类号：

G01N2320008

IPC分类号：

G01N2320

代理机构：

北京高沃律师事务所 11569

代理人：

张德才

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

测试样品台及其测试设备 [P].

留灵锴 ;

侯小刚 ;

吴杰 ;

贾梦虹 .

中国专利 :CN221594817U ,2024-08-23

[2]

测试样品台及检测设备 [P].

高峰 ;

牛佳 ;

高强 .

中国专利 :CN222653911U ,2025-03-21

[3]

一种原位测试样品台 [P].

张跃飞 ;

王晋 .

中国专利 :CN205844224U ,2016-12-28

[4]

一种截面测试样品台 [P].

刘艳茹 ;

史欣雨 ;

任杰 ;

侯小刚 ;

吴杰 .

中国专利 :CN223071344U ,2025-07-08

[5]

一种原位测试样品台 [P].

梁立军 ;

李鑫 .

中国专利 :CN214310590U ,2021-09-28

[6]

一种原位测试样品台 [P].

韦红胜 ;

许培德 ;

胡冰 ;

申佳伟 ;

郭改梅 ;

张震 ;

汪卓韬 ;

陈毅湘 ;

陈富荣 ;

温娆逊 .

中国专利 :CN209745849U ,2019-12-06

[7]

一种原位测试样品台 [P].

朱天宇 ;

段华京 ;

姜平伟 .

中国专利 :CN213364420U ,2021-06-04

[8]

一种原位X射线衍射测试样品平台 [P].

杨铁莹 ;

李晓龙 ;

高兴宇 .

中国专利 :CN205991950U ,2017-03-01

[9]

一种适用于大厚度试样的X射线衍射仪样品台 [P].

赵楠 ;

张彩东 ;

安治国 ;

禹青霄 ;

张子悦 ;

卢姝婧 ;

刘洁 ;

白丽娟 .

中国专利 :CN223565609U ,2025-11-18

[10]

一种测试样品热导率的实验台 [P].

吴雷 .

中国专利 :CN214107027U ,2021-09-03

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