基于伪随机散斑的三维测量系统、方法及装置

被引：0

申请号：

CN202210085942.9

申请日：

2022-01-25

公开(公告)号：

CN114485433A

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

雷志辉陈状刘宇熊祥祥丁华轩傅丹

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区园山街道保安社区联合路13-1号1号厂房101

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

G01B1124

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

陈舟苗

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20220125
2022-05-13	公开	公开

共 50 条

[1]

基于伪随机散斑的三维测量系统、方法及装置 [P].

雷志辉 ;

陈状 ;

刘宇 ;

熊祥祥 ;

丁华轩 ;

傅丹 .

中国专利 :CN114485433B ,2025-06-20

[2]

接触式三维测量装置及三维测量系统 [P].

陈尚俭 ;

谢江虎 ;

王江峰 ;

郑俊 .

中国专利 :CN220912262U ,2024-05-07

[3]

多阵列三维测量系统的拼接标定系统、方法及装置 [P].

雷志辉 ;

刘宇 ;

陈状 ;

周翔 ;

伏思华 ;

傅丹 .

中国专利 :CN114331977B ,2025-06-06

[4]

多阵列三维测量系统的拼接标定系统、方法及装置 [P].

雷志辉 ;

刘宇 ;

陈状 ;

周翔 ;

伏思华 ;

傅丹 .

中国专利 :CN114331977A ,2022-04-12

[5]

基于FPGA的三维测量系统 [P].

吴忠科 ;

朱建勇 .

中国专利 :CN209524887U ,2019-10-22

[6]

基于FPGA的三维测量系统 [P].

吴忠科 ;

朱建勇 .

中国专利 :CN110146031A ,2019-08-20

[7]

三维测量系统及三维测量方法 [P].

太田润 ;

松本慎也 ;

木口哲也 .

中国专利 :CN113748313A ,2021-12-03

[8]

三维测量装置以及三维测量方法 [P].

大桥隆弘 .

日本专利 :CN119665862A ,2025-03-21

[9]

基于数字散斑相关的快速三维人头测量方法 [P].

左超 ;

尹维 ;

陈钱 ;

冯世杰 ;

孙佳嵩 ;

胡岩 ;

尚昱昊 ;

陶天阳 .

中国专利 :CN112001973B ,2020-11-27

[10]

三维测量系统 [P].

钟若飞 ;

宫辉力 ;

王留召 ;

刘先林 .

中国专利 :CN102338617B ,2012-02-01

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