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芯片老化试验箱
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202022598917.X
申请日：
2020-11-11
公开(公告)号：
CN214473477U
公开(公告)日：
2021-10-22
发明(设计)人：
杨文祥
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区吴中大道2588号21幢
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3128
代理机构：
苏州科仁专利代理事务所(特殊普通合伙) 32301
代理人：
郭杨
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-10-22 | 授权 | 授权 |