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一种实验室用的精密分析天平
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201920750648.9
申请日：
2019-05-23
公开(公告)号：
CN209858047U
公开(公告)日：
2019-12-27
发明(设计)人：
李耀龙
杨昊
申请人：
申请人地址：
523000 广东省东莞市大朗镇黎贝岭村贝丽路18号安卓大厦12楼B区
IPC主分类号：
G01G1962
IPC分类号：
G01G2108
G01G2128
代理机构：
广州高炬知识产权代理有限公司 44376
代理人：
董博
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-12-27 | 授权 | 授权 |