一种薄膜热导率的测试装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201010133486.8
申请日
2010-03-28
公开(公告)号
CN101799440B
公开(公告)日
2010-08-11
发明(设计)人
张建生 杨君友 张晖 肖承京 冯双龙 朱虎 朱云峰 朱文 彭江英
申请人
申请人地址
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号
G01N2520
IPC分类号
代理机构
华中科技大学专利中心 42201
代理人
朱仁玲
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
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