一种基于光学参量过程的非线性干涉仪

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410664531.0
申请日
2014-11-19
公开(公告)号
CN105676558A
公开(公告)日
2016-06-15
发明(设计)人
荆杰泰 刘寸金 孔嘉 秦忠忠 张卫平
申请人
申请人地址
200062 上海市普陀区中山北路3663号
IPC主分类号
G02F135
IPC分类号
G02F111 G02F121
代理机构
上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙) 31257
代理人
董红曼
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于光学参量过程的非线性干涉仪 [P]. 
荆杰泰 ;
刘寸金 ;
孔嘉 ;
秦忠忠 ;
张卫平 .
中国专利 :CN204256335U ,2015-04-08
[2]
一种非线性干涉仪 [P]. 
孙敬华 ;
黄俊杰 .
中国专利 :CN115638884A ,2023-01-24
[3]
一种非线性干涉仪 [P]. 
孙敬华 ;
黄俊杰 .
中国专利 :CN115638884B ,2025-07-11
[4]
一种非线性光与原子干涉仪 [P]. 
陈丽清 ;
陈冰 ;
邱诚 ;
张卫平 .
中国专利 :CN204009312U ,2014-12-10
[5]
一种基于非线性干涉仪和反馈优化的量子密集计量装置 [P]. 
周小煜 ;
马晶旭 ;
雷兴 ;
闫智辉 ;
贾晓军 ;
彭堃墀 .
中国专利 :CN120177423A ,2025-06-20
[6]
一种非线性光与原子干涉仪及其干涉方法 [P]. 
陈丽清 ;
陈冰 ;
邱诚 ;
张卫平 .
中国专利 :CN104122735B ,2014-10-29
[7]
一种基于光学参量放大器的量子干涉仪装置 [P]. 
闫智辉 ;
左小杰 ;
贾晓军 ;
彭堃墀 .
中国专利 :CN111207667A ,2020-05-29
[8]
低非线性误差的位移测量干涉仪 [P]. 
威廉·克莱·施卢赫特尔 ;
罗伯特·托德·贝特 .
中国专利 :CN1854678A ,2006-11-01
[9]
光学移相器、基于光学移相器的光学干涉仪、以及光学干涉仪的制造方法 [P]. 
蒋嘉 .
中国专利 :CN110383127A ,2019-10-25
[10]
可消除非线性的外差激光干涉仪 [P]. 
任晓 ;
李斌 ;
钟立源 ;
王智渊 ;
冯旭 .
中国专利 :CN102768011A ,2012-11-07