测试探头

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721097420.1

申请日：

2017-08-30

公开(公告)号：

CN207123548U

公开(公告)日：

2018-03-20

发明(设计)人：

张宇翔谢强强

申请人：

申请人地址：

516083 广东省惠州市大亚湾经济技术开发区响水河

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

代理机构：

深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325

代理人：

谭果林

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-20	授权	授权

共 50 条

[1]

极化测试探头 [P].

陈秋阳 ;

陈扬 ;

谢元水 ;

陈晓峰 .

中国专利 :CN202126385U ,2012-01-25

[2]

测试探头装置 [P].

赖文杰 ;

叶贵青 ;

刘维波 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430816U ,2017-08-22

[3]

极化测试探头 [P].

陈嘉兴 .

中国专利 :CN201319014Y ,2009-09-30

[4]

测试探头及测试设备 [P].

肖玉坤 ;

邵海柱 ;

丛安平 ;

张波 ;

孙庚君 ;

许泽馨 .

中国专利 :CN222365032U ,2025-01-17

[5]

测试探头及测试设备 [P].

张致玮 .

中国专利 :CN221199766U ,2024-06-21

[6]

测试探头及测试设备 [P].

王雪鹏 ;

殷兆伟 .

中国专利 :CN204241796U ,2015-04-01

[7]

副枪测试探头 [P].

陈伟 .

中国专利 :CN2282551Y ,1998-05-27

[8]

高速力测试探头 [P].

曾蔚 ;

李永祥 .

中国专利 :CN205228688U ,2016-05-11

[9]

一种加长测试探头 [P].

胡国柳 .

中国专利 :CN220961638U ,2024-05-14

[10]

晶片测试探头 [P].

彭铁坤 ;

黄永诗 ;

刘薇 ;

邹雄辉 ;

李锡光 .

中国专利 :CN222800811U ,2025-04-25

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