全介质缺陷圆柱高品质因数折射率传感器及其制作方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111368027.2

申请日：

2021-11-18

公开(公告)号：

CN113916832A

公开(公告)日：

2022-01-11

发明(设计)人：

杜庆国梁坤林于泉毕凯

申请人：

申请人地址：

212021 江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座第9层911室

IPC主分类号：

G01N2141

IPC分类号：

G01N2143

代理机构：

武汉开元知识产权代理有限公司 42104

代理人：

刘琳;刘代乐

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-11	公开	公开
2022-01-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/41 申请日:20211118

共 50 条

[1]

全介质缺陷圆柱高品质因数折射率传感器及其制作方法 [P].

杜庆国 ;

梁坤林 ;

于泉 ;

毕凯 .

中国专利 :CN113916832B ,2024-10-29

[2]

基于全介质超表面的高品质因数折射率传感器及其制造方法 [P].

杜庆国 ;

刘欣欣 ;

李政颖 ;

梁宵 .

中国专利 :CN111650156B ,2020-09-11

[3]

一种基于高品质因数全介质超表面的折射率传感器及应用 [P].

李强 ;

田静逸 ;

吕俊 ;

仇旻 .

中国专利 :CN110361361B ,2019-10-22

[4]

一种高品质因数折射率传感器的设计方法及折射率传感器 [P].

朱旭鹏 ;

廖峻 ;

张军 ;

薛书文 ;

李佳楠 .

中国专利 :CN114815020A ,2022-07-29

[5]

具有高品质因数的Lamb波传感器 [P].

周连群 ;

李传宇 ;

郭振 ;

姚佳 ;

张威 ;

孔慧 .

中国专利 :CN106053595B ,2016-10-26

[6]

全介质超表面折射率传感器及其制备方法 [P].

杜庆国 ;

梁坤林 ;

王原丽 ;

李政颖 .

中国专利 :CN113670851B ,2021-11-19

[7]

一种高品质因数QCM传感器 [P].

谭峰 ;

叶芃 ;

邱渡裕 ;

黄武煌 ;

曾浩 ;

蒋俊 ;

杨扩军 ;

张沁川 ;

潘卉青 .

中国专利 :CN104833606B ,2015-08-12

[8]

高品质因数光子晶体传感器、其制备方法及传感检测方法 [P].

高丽 ;

曹欣怡 ;

董奇奥 ;

赵慧娟 ;

肖依博 .

中国专利 :CN115615937A ,2023-01-17

[9]

一种提高折射率传感器件品质因数的结构及测试方法 [P].

黄小丹 ;

仇超 ;

王诗军 ;

季小峰 ;

王艳 ;

朱敏 .

中国专利 :CN111879728A ,2020-11-03

[10]

高品质因数快响应检测的QCM湿度传感器及其制备方法 [P].

余兴林 ;

高廷红 ;

龙登 ;

马思汉 ;

李文桃 .

中国专利 :CN120992696A ,2025-11-21

← 1 2 3 4 5 →