测量方法、测量装置、测量程序以及记录了测量程序的计算机可读取记录介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680000448.0

申请日：

2016-04-06

公开(公告)号：

CN107466356A

公开(公告)日：

2017-12-12

发明(设计)人：

森本吉春楠芳之植木将贵柾谷明大高木哲史

申请人：

申请人地址：

日本和歌山县

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

范胜杰;王立杰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-12-12	公开	公开
2019-07-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20160406
2022-04-15	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B 11/25 申请公布日:20171212

共 50 条

[1]

测量方法、测量装置、测量程序以及记录有测量程序的计算机可读记录介质 [P].

森本吉春 ;

柾谷明大 ;

高木哲史 .

中国专利 :CN105593635A ,2016-05-18

[2]

测量方法、测量装置以及计算机可读记录介质 [P].

森本吉春 ;

柾谷明大 ;

高木哲史 .

中国专利 :CN105579809B ,2016-05-11

[3]

测量装置、测量方法、以及测量程序 [P].

野口真伍 ;

木代雅巳 .

中国专利 :CN107278265A ,2017-10-20

[4]

测量装置、测量方法、程序以及计算机可读介质 [P].

山口晃一郎 ;

中条直也 ;

大上健一 .

中国专利 :CN101681519A ,2010-03-24

[5]

测量装置、测量方法和计算机可读记录介质 [P].

寺岛宏纪 ;

永井克幸 ;

木下友见 .

中国专利 :CN108885087A ,2018-11-23

[6]

光测量方法、光测量装置、光测量程序以及存储光测量程序的存储介质 [P].

嶋瀬朗 ;

堀田和宏 .

中国专利 :CN111512169A ,2020-08-07

[7]

测量装置、测量系统、测量程序以及测量方法 [P].

渡边义浩 ;

石川正俊 ;

加地宏乃介 .

中国专利 :CN112771367A ,2021-05-07

[8]

测量方法、测量装置、测量系统以及测量程序 [P].

小林祥宏 .

中国专利 :CN115541151A ,2022-12-30

[9]

光学测量装置、光学测量方法、计算机程序和记录介质 [P].

立石洁 ;

佐藤充 ;

近藤正 ;

小野寺涉 ;

村上智也 ;

县麻华里 ;

安达玄纪 .

中国专利 :CN111213037B ,2020-05-29

[10]

测量系统、测量方法以及测量程序 [P].

村云泰 ;

和气千大 ;

加藤宏记 .

中国专利 :CN115427756A ,2022-12-02

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