一种缺陷检测系统和缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010146627.3

申请日：

2020-03-05

公开(公告)号：

CN111208144B

公开(公告)日：

2020-05-29

发明(设计)人：

高建祥

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区芳春路400号1幢3层

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

孟金喆

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-22	授权	授权
2020-06-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20200305
2021-10-15	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01N 21/88 变更事项:发明人变更前:高建翔变更后:高建祥
2020-05-29	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、缺陷检测系统和缺陷检测程序 [P].

辻本翔悟 .

日本专利 :CN118202383A ,2024-06-14

[2]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

梅红伟 ;

涂彦昕 ;

胡伟 ;

刘健犇 ;

刘立帅 ;

王黎明 .

中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19

[3]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

张勤 ;

付翔宇 ;

李国军 .

中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30

[4]

一种缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P].

茹泽伟 ;

刁梁 ;

付磊 .

中国专利 :CN113405994A ,2021-09-17

[5]

一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

陈鲁 ;

黄有为 ;

张龙 ;

朱燕明 ;

王建龙 .

中国专利 :CN120847114A ,2025-10-28

[6]

一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

曹阳 ;

谢佳 ;

翟攀攀 ;

严兵华 ;

施明志 ;

郭育诚 .

中国专利 :CN120213930A ,2025-06-27

[7]

一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

田依杉 ;

兰艳平 .

中国专利 :CN115508364B ,2025-04-25

[8]

一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

陈鲁 ;

黄有为 ;

张龙 ;

赵康俊 ;

刘英见 .

中国专利 :CN120801333A ,2025-10-17

[9]

一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

陈鲁 ;

黄有为 ;

张龙 ;

赵康俊 ;

刘英见 .

中国专利 :CN120801333B ,2025-12-09

[10]

一种缺陷检测系统及其缺陷检测方法 [P].

朱宇轩 ;

张长水 ;

曹沿松 ;

陈龙 .

中国专利 :CN118688119A ,2024-09-24

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