三维微纳结构、检测装置和检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410350476.8

申请日：

2014-07-22

公开(公告)号：

CN105445250A

公开(公告)日：

2016-03-30

发明(设计)人：

黄成军罗军赵超

申请人：

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路3号

IPC主分类号：

G01N2165

IPC分类号：

B82B300

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

倪斌

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-04-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101657708814 IPC(主分类):G01N 21/65 专利申请号:2014103504768 申请日:20140722
2016-03-30	公开	公开
2018-07-31	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 21/65 申请公布日:20160330

共 50 条

[1]

微纳器件三维结构光学检测装置及方法 [P].

石俊凯 ;

李冠楠 ;

陈晓梅 ;

黎尧 ;

刘立拓 ;

高超 ;

董登峰 ;

周维虎 .

中国专利 :CN114252007A ,2022-03-29

[2]

三维检测装置及三维检测方法 [P].

张鹏黎 ;

王帆 .

中国专利 :CN112748111B ,2021-05-04

[3]

三维检测系统和三维检测方法 [P].

杜华 ;

董伟超 ;

徐玉凯 .

中国专利 :CN112747671B ,2021-05-04

[4]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

早川泰久 ;

深田修 .

中国专利 :CN104508726B ,2015-04-08

[5]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

土谷千加夫 ;

古性裕之 ;

田中慎也 ;

早川泰久 .

中国专利 :CN103080976A ,2013-05-01

[6]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

曾兴祥 ;

陶艳 ;

王志林 .

中国专利 :CN118010088A ,2024-05-10

[7]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

早川泰久 ;

深田修 ;

笈木大介 ;

西田雪德 .

中国专利 :CN104508727B ,2015-04-08

[8]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

早川泰久 ;

土谷千加夫 ;

深田修 ;

西田雪德 ;

笈木大介 .

中国专利 :CN103718224B ,2014-04-09

[9]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

深田修 ;

早川泰久 .

中国专利 :CN104246821B ,2014-12-24

[10]

三维物体检测装置和三维物体检测方法 [P].

早川泰久 ;

深田修 .

中国专利 :CN104508725B ,2015-04-08

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