自动分析装置及样本分析方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710010297.3
申请日
2017-01-06
公开(公告)号
CN106645765B
公开(公告)日
2017-05-10
发明(设计)人
张震
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区中山园路1001号TCL国际E城D2栋6楼
IPC主分类号
G01N3500
IPC分类号
代理机构
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
何平
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
自动分析装置及样本分析方法 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN106841644B ,2017-06-13
[2]
自动分析装置及样本分析方法 [P]. 
刘丹 .
中国专利 :CN106706942A ,2017-05-24
[3]
自动分析装置及样本分析方法 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN110007099B ,2019-07-12
[4]
自动分析装置及样本分析方法 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN109142768B ,2019-01-04
[5]
自动分析装置及其样本分析方法 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN107942085A ,2018-04-20
[6]
样本分析装置及样本分析方法 [P]. 
福寿利胜 ;
今津雅范 ;
芝正树 .
中国专利 :CN104950122B ,2015-09-30
[7]
样本分析方法及样本分析装置 [P]. 
瞿振 ;
昂朝满 ;
陈谱光 ;
吕维杰 ;
黄慧慧 .
中国专利 :CN114184800B ,2025-09-09
[8]
样本分析方法及样本分析装置 [P]. 
瞿振 ;
昂朝满 ;
陈谱光 ;
吕维杰 ;
黄慧慧 .
中国专利 :CN114184800A ,2022-03-15
[9]
自动分析装置及其样本分析方法 [P]. 
张震 ;
周鹏 ;
王俊 ;
解传芬 ;
王海 .
中国专利 :CN103443629A ,2013-12-11
[10]
样本分析系统、样本分析装置及样本分析方法 [P]. 
小田哲也 ;
桑野桂辅 ;
福间大吾 ;
有吉俊辅 .
中国专利 :CN103348250B ,2013-10-09