接触式扫描测头、坐标测量装置、系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810090724.8

申请日：

2018-01-30

公开(公告)号：

CN108286937A

公开(公告)日：

2018-07-17

发明(设计)人：

王红郭伟青

申请人：

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

代理机构：

北京市立方律师事务所 11330

代理人：

刘延喜

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-24	授权	授权
2018-08-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20180130
2018-07-17	公开	公开

共 50 条

[1]

接触式扫描测头 [P].

夏发平 .

中国专利 :CN302435239S ,2013-05-15

[2]

测量力恒定可控的接触式扫描测头 [P].

不公告设计人 .

中国专利 :CN302629044S ,2013-11-06

[3]

数字量扫描测头测量装置 [P].

魏天水 ;

经挺度 ;

王江涛 .

中国专利 :CN202614201U ,2012-12-19

[4]

一种接触式扫描测头及其测量方法 [P].

仇谷烽 ;

崔旭东 .

中国专利 :CN104197853A ,2014-12-10

[5]

坐标测量装置及跟踪扫描系统 [P].

杨付四 ;

陈校超 .

中国专利 :CN222364544U ,2025-01-17

[6]

坐标测量装置及跟踪扫描系统 [P].

杨付四 ;

陈校超 .

中国专利 :CN118758171A ,2024-10-11

[7]

一种扫描式测头测量装置 [P].

陈洪芳 ;

石照耀 ;

郑智伟 .

中国专利 :CN102538678B ,2012-07-04

[8]

一种扫描式测头测量装置 [P].

陈洪芳 ;

石照耀 ;

郑智伟 .

中国专利 :CN202599340U ,2012-12-12

[9]

坐标测量装置用测头盘 [P].

沃特·马图谢克 ;

克里斯汀·西格尔 ;

托比斯·沃特兹 ;

沃特·詹尼斯克 ;

库尔特·布伦纳 ;

托马斯·恩格尔 .

中国专利 :CN301966046S ,2012-06-27

[10]

一种接触式扫描测头 [P].

仇谷烽 ;

崔旭东 .

中国专利 :CN203929035U ,2014-11-05

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