一种基于双光路的光纤Verdet常数测量系统

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专利类型
发明
申请号
CN201210592817.3
申请日
2012-12-31
公开(公告)号
CN103076155B
公开(公告)日
2013-05-01
发明(设计)人
李彦 姜漫 宋镜明 宋凝芳 金靖 李帅 孙彦凤
申请人
申请人地址
100191 北京市海淀区学院路37号
IPC主分类号
G01M1100
IPC分类号
代理机构
北京永创新实专利事务所 11121
代理人
赵文利
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于干涉法的光纤Verdet常数测量系统 [P]. 
李彦 ;
孙彦凤 ;
姜漫 ;
宋镜明 ;
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孙祚明 .
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[2]
一种保偏光纤Verdet常数测量装置及方法 [P]. 
金靖 ;
王曙 ;
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宋镜明 ;
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孙祚明 .
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[3]
一种掺杂光纤的Verdet常数测量方法与装置 [P]. 
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[4]
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[5]
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韦立宏 ;
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[6]
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郑婉宁 ;
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[7]
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孙崐 ;
郑婉宁 ;
李晓彤 ;
陈寅生 ;
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[8]
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江燕彬 ;
张红阳 ;
林艳 ;
翁丽君 .
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[9]
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高书苑 ;
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李一芒 ;
齐飞 ;
杨鹏 ;
徐伟悦 ;
崔捷 .
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[10]
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张亚 ;
崔远驰 ;
王勇 ;
赵子超 ;
雷露 ;
王海建 ;
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