芯片图像检测系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201521035014.3
申请日
2015-12-14
公开(公告)号
CN205449821U
公开(公告)日
2016-08-10
发明(设计)人
李志远 耿世慧 李熙春
申请人
申请人地址
400039 重庆市高新区石桥铺石杨路17号77-1及77-4万昌国际商业城三楼IT微企孵化园B108
IPC主分类号
G01N2189
IPC分类号
代理机构
上海光华专利事务所 31219
代理人
尹丽云
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片图像检测系统 [P]. 
李志远 ;
耿世慧 ;
李熙春 .
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[2]
芯片检测系统 [P]. 
潘咏民 .
中国专利 :CN208275776U ,2018-12-25
[3]
芯片性能检测系统及其芯片性能检测装置 [P]. 
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黎理杰 .
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[4]
薄膜图像检测系统 [P]. 
徐明 ;
丁漪杰 ;
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[5]
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[6]
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[9]
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[10]
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