光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710029641.3

申请日：

2017-01-16

公开(公告)号：

CN106813901B

公开(公告)日：

2017-06-09

发明(设计)人：

钟朝阳刘源周翠芸马秀华孟俊清侯霞陈卫标

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区上海市800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317

代理人：

张宁展

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-06-09	公开	公开
2017-07-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101731397213 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2017100296413 申请日:20170116
2018-12-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法 [P].

陈强华 ;

关裕 ;

邵多 ;

刘福铭 ;

吕洪波 ;

孙启国 ;

司丽娜 ;

何广平 .

中国专利 :CN115541203B ,2025-08-08

[2]

一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法 [P].

陈强华 ;

关裕 ;

邵多 ;

刘福铭 ;

吕洪波 ;

孙启国 ;

司丽娜 ;

何广平 .

中国专利 :CN115541203A ,2022-12-30

[3]

八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法 [P].

方瑞芳 ;

曾爱军 ;

刘龙海 ;

朱玲琳 ;

袁乔 ;

黄惠杰 .

中国专利 :CN102519712B ,2012-06-27

[4]

相位延迟的测量装置及测量方法 [P].

陈志忠 ;

王伯萍 .

中国专利 :CN1808090A ,2006-07-26

[5]

双折射光学器件相位延迟量及快轴方向的测量方法及装置 [P].

蒋弘 ;

吴健 ;

陈强华 ;

柳忠尧 ;

李睿颖 .

中国专利 :CN101118199A ,2008-02-06

[6]

相位延迟值的测量装置及测量方法 [P].

陈志忠 ;

王伯萍 .

中国专利 :CN1904673A ,2007-01-31

[7]

液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法 [P].

刘晓凤 ;

彭丽萍 ;

赵元安 ;

李大伟 ;

胡国行 ;

朱美萍 ;

邵建达 .

中国专利 :CN109141828A ,2019-01-04

[8]

四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法 [P].

曾爱军 ;

邓柏寒 ;

刘龙海 ;

朱玲琳 ;

黄惠杰 .

中国专利 :CN103335821A ,2013-10-02

[9]

一种光学相位延迟精密测量方法及其系统 [P].

宋菲君 ;

范玲 ;

俞蕾 ;

韩永刚 ;

林海晏 ;

宋建力 ;

姚思一 .

中国专利 :CN101183043A ,2008-05-21

[10]

液晶型相位器件空间相位延迟量分布测量方法及相关装置 [P].

任立勇 ;

魏尚恒 ;

王佩瑶 .

中国专利 :CN120761002A ,2025-10-10

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