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一种通用型微细探针测试治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201720255033.X
申请日
:
2017-03-06
公开(公告)号
:
CN206505106U
公开(公告)日
:
2017-09-19
发明(设计)人
:
吴兆正
申请人
:
申请人地址
:
215313 江苏省苏州市昆山市周市镇朱家湾路2号
IPC主分类号
:
G01R1073
IPC分类号
:
G01R3102
G01R3128
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-02-23
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20170306 授权公告日:20170919 终止日期:20200306
2017-09-19
授权
授权
共 50 条
[1]
一种通用型微细探针测试治具
[P].
吴兆正
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴兆正
.
中国专利
:CN106855580A
,2017-06-16
[2]
一种微细探针测试治具
[P].
吴兆正
论文数:
0
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0
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吴兆正
.
中国专利
:CN202649242U
,2013-01-02
[3]
通用型测试治具
[P].
张君军
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张君军
;
许威
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许威
;
刘赟
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刘赟
;
金翠英
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金翠英
;
颉福豪
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颉福豪
.
中国专利
:CN213067678U
,2021-04-27
[4]
一种通用型半导体探针测试治具
[P].
阚宏林
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阚宏林
.
中国专利
:CN213778947U
,2021-07-23
[5]
一种通用型硬盘测试治具
[P].
郑勇
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郑勇
;
赵铭
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赵铭
.
中国专利
:CN204242592U
,2015-04-01
[6]
一种通用型测试治具
[P].
张君军
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张君军
;
许威
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许威
;
刘赟
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刘赟
;
金翠英
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金翠英
;
颉福豪
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颉福豪
.
中国专利
:CN213067676U
,2021-04-27
[7]
一种微细探针通电测试治具
[P].
苏军梅
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苏军梅
.
中国专利
:CN208953655U
,2019-06-07
[8]
通用型FOG测试治具
[P].
陈楚耿
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陈楚耿
;
魏群
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魏群
;
周振华
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周振华
.
中国专利
:CN204883103U
,2015-12-16
[9]
一种通用型主板测试治具
[P].
孙远标
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孙远标
;
魏彦峰
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魏彦峰
.
中国专利
:CN213903580U
,2021-08-06
[10]
一种通用型FPC测试治具
[P].
刘建平
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刘建平
;
刘生明
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刘生明
.
中国专利
:CN217034157U
,2022-07-22
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