一种通用型微细探针测试治具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201720255033.X
申请日
2017-03-06
公开(公告)号
CN206505106U
公开(公告)日
2017-09-19
发明(设计)人
吴兆正
申请人
申请人地址
215313 江苏省苏州市昆山市周市镇朱家湾路2号
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
G01R3102 G01R3128
代理机构
代理人
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
一种通用型微细探针测试治具 [P]. 
吴兆正 .
中国专利 :CN106855580A ,2017-06-16
[2]
一种微细探针测试治具 [P]. 
吴兆正 .
中国专利 :CN202649242U ,2013-01-02
[3]
通用型测试治具 [P]. 
张君军 ;
许威 ;
刘赟 ;
金翠英 ;
颉福豪 .
中国专利 :CN213067678U ,2021-04-27
[4]
一种通用型半导体探针测试治具 [P]. 
阚宏林 .
中国专利 :CN213778947U ,2021-07-23
[5]
一种通用型硬盘测试治具 [P]. 
郑勇 ;
赵铭 .
中国专利 :CN204242592U ,2015-04-01
[6]
一种通用型测试治具 [P]. 
张君军 ;
许威 ;
刘赟 ;
金翠英 ;
颉福豪 .
中国专利 :CN213067676U ,2021-04-27
[7]
一种微细探针通电测试治具 [P]. 
苏军梅 .
中国专利 :CN208953655U ,2019-06-07
[8]
通用型FOG测试治具 [P]. 
陈楚耿 ;
魏群 ;
周振华 .
中国专利 :CN204883103U ,2015-12-16
[9]
一种通用型主板测试治具 [P]. 
孙远标 ;
魏彦峰 .
中国专利 :CN213903580U ,2021-08-06
[10]
一种通用型FPC测试治具 [P]. 
刘建平 ;
刘生明 .
中国专利 :CN217034157U ,2022-07-22