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一种芯片测试机用的探针机构
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021018959.5
申请日
:
2020-06-05
公开(公告)号
:
CN212845750U
公开(公告)日
:
2021-03-30
发明(设计)人
:
卞杰锋
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市工业园区星海街5号星海5号创意园118室
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
G01R1067
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-03-30
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机
[P].
张爱林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
张爱林
.
中国专利
:CN223107976U
,2025-07-15
[2]
一种芯片测试机用芯片定位机构
[P].
朱松
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱松
.
中国专利
:CN210778490U
,2020-06-16
[3]
一种芯片测试机用夹持机构
[P].
胥怡心
论文数:
0
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0
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0
胥怡心
;
许根泉
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0
许根泉
;
陈才刚
论文数:
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0
陈才刚
;
姚波
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0
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0
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0
姚波
.
中国专利
:CN217180997U
,2022-08-12
[4]
一种基于芯片测试机的微调机构
[P].
陈荣峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈荣峰
.
中国专利
:CN215449363U
,2022-01-07
[5]
芯片测试机构及测试机
[P].
张磊
论文数:
0
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0
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0
张磊
;
陈波
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈波
.
中国专利
:CN216595407U
,2022-05-24
[6]
一种芯片测试机构
[P].
庄渊胜
论文数:
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庄渊胜
;
蔡江梁
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蔡江梁
;
王强
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0
王强
.
中国专利
:CN213122195U
,2021-05-04
[7]
一种芯片测试设备的测试机构
[P].
张治强
论文数:
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
张治强
;
杨师
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
杨师
;
苏允康
论文数:
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引用数:
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0
机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
苏允康
.
中国专利
:CN223051462U
,2025-07-01
[8]
一种芯片测试机
[P].
黄家国
论文数:
0
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0
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0
黄家国
.
中国专利
:CN217543319U
,2022-10-04
[9]
探针测试机构
[P].
宋信信
论文数:
0
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0
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0
宋信信
.
中国专利
:CN206627543U
,2017-11-10
[10]
一种微型芯片测试机构
[P].
张本伍
论文数:
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张本伍
;
郗旭斌
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郗旭斌
.
中国专利
:CN212540477U
,2021-02-12
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