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尺寸测量装置、包裹柜系统和尺寸测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201680076223.3
申请日
:
2016-12-16
公开(公告)号
:
CN108474647A
公开(公告)日
:
2018-08-31
发明(设计)人
:
门脇信谕
申请人
:
申请人地址
:
日本大阪府
IPC主分类号
:
G01B1102
IPC分类号
:
B65G1137
代理机构
:
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
:
刘新宇
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-08-31
公开
公开
2020-08-04
授权
授权
2018-09-25
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20161216
共 50 条
[1]
尺寸测量装置、尺寸测量方法、尺寸测量系统和程序
[P].
山本治美
论文数:
0
引用数:
0
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0
山本治美
;
直原肇
论文数:
0
引用数:
0
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0
直原肇
.
中国专利
:CN105593637B
,2016-05-18
[2]
尺寸测量装置、尺寸测量方法以及尺寸测量系统
[P].
奥山裕
论文数:
0
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0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
奥山裕
;
大森健史
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
大森健史
.
日本专利
:CN120021423A
,2025-05-20
[3]
物体尺寸测量方法、装置和系统
[P].
胡正
论文数:
0
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0
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0
胡正
;
朱毅宁
论文数:
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0
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朱毅宁
;
王磊刚
论文数:
0
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0
王磊刚
;
洪锦奇
论文数:
0
引用数:
0
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0
洪锦奇
.
中国专利
:CN108240793A
,2018-07-03
[4]
尺寸测量装置以及尺寸测量方法
[P].
藤原晃
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0
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0
藤原晃
;
初田健
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初田健
;
手塚涉太
论文数:
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0
手塚涉太
;
上田弥侑
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0
上田弥侑
;
安永卓哉
论文数:
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0
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安永卓哉
.
中国专利
:CN112739975A
,2021-04-30
[5]
尺寸测量装置以及尺寸测量方法
[P].
藤原晃
论文数:
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0
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藤原晃
;
初田健
论文数:
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初田健
;
手塚涉太
论文数:
0
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手塚涉太
;
上田弥侑
论文数:
0
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0
上田弥侑
;
安永卓哉
论文数:
0
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0
安永卓哉
.
中国专利
:CN112739976A
,2021-04-30
[6]
一种尺寸测量装置、尺寸测量方法及尺寸测量系统
[P].
邓勇
论文数:
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0
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0
邓勇
.
中国专利
:CN110553589A
,2019-12-10
[7]
双相机尺寸测量装置和工件尺寸测量方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
武建新
;
论文数:
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机构:
陈红霞
;
刘范财
论文数:
0
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0
机构:
内蒙古工业大学
内蒙古工业大学
刘范财
;
韩伟濠
论文数:
0
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0
机构:
内蒙古工业大学
内蒙古工业大学
韩伟濠
;
论文数:
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机构:
张琦
;
论文数:
引用数:
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机构:
谢遂心
.
中国专利
:CN119374488A
,2025-01-28
[8]
尺寸测量装置、尺寸测量方法以及程序
[P].
福田将贵
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
福田将贵
;
松延彻
论文数:
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0
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机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
松延彻
.
日本专利
:CN117957418A
,2024-04-30
[9]
尺寸测量设备、尺寸测量方法和用于尺寸测量设备的程序
[P].
川泰孝
论文数:
0
引用数:
0
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0
川泰孝
.
中国专利
:CN102628670A
,2012-08-08
[10]
手机尺寸测量方法和系统
[P].
余卫宇
论文数:
0
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余卫宇
;
廖伟权
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0
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0
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0
廖伟权
;
孙宇飞
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0
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0
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孙宇飞
;
钱少惠
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0
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0
钱少惠
.
中国专利
:CN105444678A
,2016-03-30
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