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测试电路系统的方法及相关电路系统

被引：0
申请号：
CN202110494515.1
申请日：
2021-05-07
公开(公告)号：
CN115308579A
公开(公告)日：
2022-11-08
发明(设计)人：
卢彦儒
申请人：
申请人地址：
中国台湾新竹科学园区创新二路2号
IPC主分类号：
G01R313185
IPC分类号：
G06F1122
代理机构：
北京市君合律师事务所 11517
代理人：
王再芊;毕长生
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-11-08 公开 公开
2022-11-25 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3185 申请日:20210507
共 50 条
[1]
测试电路系统的方法及相关电路系统 [P]. 
卢彦儒 .
中国专利 :CN115308579B ,2025-08-26
[2]
电路系统、用于操作电路系统的方法 [P]. 
崔嘉杰 ;
李美慧 ;
王怀锋 .
中国专利 :CN117578656A ,2024-02-20
[3]
电路系统和用于操作电路系统的方法 [P]. 
J·马南卡尼耶尔斯 ;
T·托雷斯 .
德国专利 :CN119519445A ,2025-02-25
[4]
嵌入电路系统和电子电路系统的方法 [P]. 
康斯坦斯·A·约翰逊 ;
阿斯比特·V·默托尼安 .
中国专利 :CN85107537A ,1987-04-15
[5]
DRAM电路系统及形成DRAM电路系统的方法 [P]. 
宫下俊彦 ;
D·莫库塔 .
美国专利 :CN117796173A ,2024-03-29
[6]
芯片测试电路系统 [P]. 
贾力 ;
江猛 .
中国专利 :CN201096869Y ,2008-08-06
[7]
电路系统 [P]. 
迪莱什·阿尔温德·劳特 .
中国专利 :CN208833885U ,2019-05-07
[8]
电路系统 [P]. 
亚历山大·波佩斯修 ;
赖纳·波普 .
中国专利 :CN202797373U ,2013-03-13
[9]
电路系统 [P]. 
刘清清 .
中国专利 :CN104733410A ,2015-06-24
[10]
电路系统 [P]. 
M·库茨门卡 ;
S·穆夫 ;
H·鲁克鲍尔 .
中国专利 :CN1860684A ,2006-11-08
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