一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110636805.5

申请日：

2021-06-08

公开(公告)号：

CN113406431A

公开(公告)日：

2021-09-17

发明(设计)人：

罗伟窦国珍肖冬申敏

申请人：

申请人地址：

610000 四川省成都市天府新区正兴街道顺圣路172号

IPC主分类号：

G01R3101

IPC分类号：

G01R2726 B07C5344

代理机构：

成都环泰专利代理事务所(特殊普通合伙) 51242

代理人：

李斌;李辉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-17	公开	公开
2021-10-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/01 申请日:20210608

共 50 条

[1]

一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试系统 [P].

罗伟 ;

窦国珍 ;

肖冬 ;

申敏 .

中国专利 :CN215542895U ,2022-01-18

[2]

一种自动测试分选机 [P].

李春 ;

孙志刚 .

中国专利 :CN218251598U ,2023-01-10

[3]

一种自动测试分选机 [P].

张新齐 ;

刘慧艳 .

中国专利 :CN211330323U ,2020-08-25

[4]

一种自动测试分选机 [P].

何克里 ;

赵华桥 .

中国专利 :CN205270178U ,2016-06-01

[5]

一种自动测试分选机 [P].

李庆嘉 .

中国专利 :CN203426071U ,2014-02-12

[6]

自动测试分选机的顶针 [P].

龚利汀 ;

左勇强 ;

贾兆虎 .

中国专利 :CN204170968U ,2015-02-25

[7]

自动测试分选机用分选结构 [P].

张新齐 ;

刘慧艳 ;

蔡晓东 .

中国专利 :CN218167829U ,2022-12-30

[8]

一种晶片自动测试分选机 [P].

李天宝 ;

张明 ;

潘东东 ;

汪晓虎 ;

谢凡 ;

朱成 .

中国专利 :CN113953197A ,2022-01-21

[9]

一种半自动测试分选机 [P].

郭寂波 .

中国专利 :CN211488626U ,2020-09-15

[10]

一种晶片自动测试分选机 [P].

李天宝 ;

张明 ;

潘东东 ;

汪晓虎 ;

谢凡 ;

朱成 .

中国专利 :CN216500813U ,2022-05-13

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