射频芯片读写测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220287208.2

申请日：

2012-06-19

公开(公告)号：

CN202600741U

公开(公告)日：

2012-12-12

发明(设计)人：

黄凯滨蔡陈胜陈经炜

申请人：

申请人地址：

528400 广东省中山市坦洲镇永二村祯祥新街81号2栋2楼B区之二

IPC主分类号：

G06K1700

IPC分类号：

代理机构：

广州粤高专利商标代理有限公司 44102

代理人：

林新中

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-12-12	授权	授权
2018-07-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06K 17/00 申请日:20120619 授权公告日:20121212 终止日期:20170619

共 50 条

[1]

射频测试仪 [P].

段偲 ;

管小龙 .

中国专利 :CN302340097S ,2013-03-06

[2]

芯片测试仪 [P].

王庆兵 ;

夏琳琅 ;

杨小明 .

中国专利 :CN309682070S ,2025-12-19

[3]

射频功率测试仪 [P].

杨金壮 ;

李宏斌 ;

余康飞 ;

王志 ;

殷律 .

中国专利 :CN201811992U ,2011-04-27

[4]

连续跳测试仪 [P].

王亚龙 .

中国专利 :CN204017247U ,2014-12-17

[5]

自动视力测试仪 [P].

段英宏 .

中国专利 :CN202223209U ,2012-05-23

[6]

芯片测试仪测试头 [P].

祁美超 ;

赖榴新 .

中国专利 :CN302559073S ,2013-09-04

[7]

射频信号传输装置、射频开关芯片和测试仪 [P].

余益伟 ;

曹锋 .

中国专利 :CN218276662U ,2023-01-10

[8]

芯片推力测试仪 [P].

余登华 ;

卢良军 ;

顾南雁 .

中国专利 :CN202562810U ,2012-11-28

[9]

芯片选型测试仪 [P].

温禄泉 ;

林东宁 .

中国专利 :CN205139315U ,2016-04-06

[10]

芯片测试仪（3188） [P].

宁丽娟 .

中国专利 :CN307817949S ,2023-01-31

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