一种X射线探测装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201020264172.7
申请日
2010-07-20
公开(公告)号
CN201775634U
公开(公告)日
2011-03-30
发明(设计)人
付东山 盛晔
申请人
申请人地址
100039 北京市海淀区金沟河路10号北综合楼4单元7号
IPC主分类号
A61B600
IPC分类号
代理机构
苏州华博知识产权代理有限公司 32232
代理人
傅靖
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种X射线同步成像探测装置 [P]. 
黎刚 ;
王艳萍 ;
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[2]
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陈胜 ;
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[3]
一种x射线探测装置 [P]. 
俞丹萍 ;
曹小雪 ;
高超 .
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[4]
X射线探测装置 [P]. 
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[5]
X射线背散射探测装置 [P]. 
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[6]
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[7]
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李清政 ;
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[8]
一种多探测源X射线检测装置 [P]. 
冉龙松 ;
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朱云焕 ;
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[9]
一种X射线荧光探测装置 [P]. 
丁娇娇 ;
母海亮 ;
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[10]
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张军 ;
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