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高精度时间戳的前置打戳方法及系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810817049.4
申请日
:
2018-07-24
公开(公告)号
:
CN108631900A
公开(公告)日
:
2018-10-09
发明(设计)人
:
宋军
张宗鹏
石雨晨
申请人
:
申请人地址
:
100084 北京市海淀区成府路45号海升集团公司A座209室
IPC主分类号
:
H04J306
IPC分类号
:
代理机构
:
北京纽乐康知识产权代理事务所(普通合伙) 11210
代理人
:
覃莉
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-10-09
公开
公开
2020-10-30
授权
授权
2018-11-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04J 3/06 申请日:20180724
共 50 条
[1]
低功耗传感器系统中高精度时间戳打戳与同步方法及装置
[P].
赵红旭
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赵红旭
;
杜存亮
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杜存亮
;
庄劼霖
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庄劼霖
;
江臻
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江臻
.
中国专利
:CN115515217A
,2022-12-23
[2]
低功耗传感器系统中高精度时间戳打戳与同步方法及装置
[P].
赵红旭
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机构:
联发科技(新加坡)私人有限公司
联发科技(新加坡)私人有限公司
赵红旭
;
杜存亮
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机构:
联发科技(新加坡)私人有限公司
联发科技(新加坡)私人有限公司
杜存亮
;
庄劼霖
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机构:
联发科技(新加坡)私人有限公司
联发科技(新加坡)私人有限公司
庄劼霖
;
江臻
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机构:
联发科技(新加坡)私人有限公司
联发科技(新加坡)私人有限公司
江臻
.
:CN115515217B
,2025-07-18
[3]
基于PCIE的高精度时间戳获取方法、装置及网卡
[P].
邹昕
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邹昕
;
周立
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周立
;
张家琦
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张家琦
;
金暐
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金暐
;
黄文廷
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黄文廷
;
李应博
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李应博
.
中国专利
:CN104901844B
,2015-09-09
[4]
高精度测绘相机的时间戳产生方法
[P].
余达
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余达
;
韩诚山
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韩诚山
;
李俊霖
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李俊霖
;
唐延甫
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唐延甫
;
杨永强
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杨永强
;
孙铭
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孙铭
;
马丽娟
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0
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马丽娟
.
中国专利
:CN113237465B
,2021-08-10
[5]
一种高精度时间戳的获取方法、系统、设备及存储介质
[P].
沈文博
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机构:
江苏信而泰智能装备有限公司
江苏信而泰智能装备有限公司
沈文博
.
中国专利
:CN117254872B
,2024-04-05
[6]
一种高精度时间戳抖动的检测方法及装置
[P].
方继通
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机构:
武汉飞思灵微电子技术有限公司
武汉飞思灵微电子技术有限公司
方继通
;
陈旭
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机构:
武汉飞思灵微电子技术有限公司
武汉飞思灵微电子技术有限公司
陈旭
;
张梓洋
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机构:
武汉飞思灵微电子技术有限公司
武汉飞思灵微电子技术有限公司
张梓洋
;
刘璇
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机构:
武汉飞思灵微电子技术有限公司
武汉飞思灵微电子技术有限公司
刘璇
.
中国专利
:CN118353818A
,2024-07-16
[7]
一种用于无线时间同步的高精度时间戳检测装置及方法
[P].
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机构:
余钫
;
徐冉
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机构:
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
徐冉
;
胡江涵
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机构:
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
胡江涵
;
张曼曼
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机构:
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
张曼曼
;
陈智勇
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机构:
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
陈智勇
;
蔡雯静
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机构:
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
蔡雯静
;
论文数:
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机构:
高伟
;
金鑫
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机构:
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
金鑫
;
秦蕾
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机构:
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
秦蕾
.
中国专利
:CN120546818A
,2025-08-26
[8]
时间戳认证系统及方法
[P].
黄川哲
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黄川哲
.
中国专利
:CN106411817A
,2017-02-15
[9]
获取时间戳的方法、时间的同步系统
[P].
王琳琳
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王琳琳
;
何力
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何力
;
游俊
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游俊
.
中国专利
:CN111245542B
,2020-06-05
[10]
一种高精度NTP时间戳标记硬件装置
[P].
李煜
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李煜
;
杨勇
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杨勇
;
吴琦
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吴琦
.
中国专利
:CN205068379U
,2016-03-02
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