光学波片的检测仪

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN01132359.0
申请日
2001-11-30
公开(公告)号
CN1350155A
公开(公告)日
2002-05-22
发明(设计)人
欧阳斌 林礼煌 徐至展 张秉钧 莽燕萍
申请人
申请人地址
201800上海市800-211邮政信箱
IPC主分类号
G01B1106
IPC分类号
代理机构
上海智信专利代理有限公司
代理人
李兰英
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
光学波片厚度的测量仪 [P]. 
欧阳斌 ;
林礼煌 ;
徐至展 ;
张秉钧 ;
莽燕萍 .
中国专利 :CN2515652Y ,2002-10-09
[2]
一种波片检测仪支架 [P]. 
魏东 .
中国专利 :CN215573681U ,2022-01-18
[3]
高复现性通用光学波片检测仪 [P]. 
周飞 ;
徐文东 ;
干福熹 .
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[4]
光学检测仪 [P]. 
许法卿 .
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[5]
光学检测仪 [P]. 
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李博 ;
王延珍 ;
常晨 ;
金悦 ;
叶宇 ;
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[6]
光学检测仪 [P]. 
吴雪玲 .
中国专利 :CN305371265S ,2019-10-01
[7]
光学检测仪 [P]. 
刘顺志 ;
汪庆 ;
孙杰 ;
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[8]
光学检测仪 [P]. 
刘翥 .
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[9]
光学检测仪 [P]. 
钟丹丹 .
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[10]
光学检测仪 [P]. 
许法卿 .
中国专利 :CN204855141U ,2015-12-09