样本分析系统、样本分析仪及样本分析方法

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申请号
CN202011427558.X
申请日
2020-12-09
公开(公告)号
CN114611086A
公开(公告)日
2022-06-10
发明(设计)人
余渊
申请人
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区科技南十二路迈瑞大厦1-4层
IPC主分类号
G06F2132
IPC分类号
G01N3500
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
王学强
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
样本分析仪、样本分析方法和样本分析系统 [P]. 
张忠旭 ;
王玉亭 ;
方建伟 ;
赵丽文 .
中国专利 :CN119086405A ,2024-12-06
[2]
样本分析仪、样本分析方法和样本分析系统 [P]. 
张忠旭 ;
王玉亭 ;
方建伟 ;
赵丽文 .
中国专利 :CN119086405B ,2025-02-25
[3]
样本分析仪及样本分析系统 [P]. 
周洋 .
中国专利 :CN117849363A ,2024-04-09
[4]
样本分析仪及样本分析系统 [P]. 
刘海 ;
滕锦 ;
李沿涛 .
中国专利 :CN117849256A ,2024-04-09
[5]
样本分析仪及样本分析系统 [P]. 
柯常训 ;
高峰 .
中国专利 :CN119224352A ,2024-12-31
[6]
样本分析仪及样本分析方法 [P]. 
代剑东 ;
孙娟娟 ;
翁彦雯 .
中国专利 :CN114518463A ,2022-05-20
[7]
样本分析仪及样本分析方法 [P]. 
易秋实 ;
叶燚 ;
李学荣 .
中国专利 :CN113670800A ,2021-11-19
[8]
样本分析仪及样本分析方法 [P]. 
刘斌 ;
寻文鹏 ;
李朝阳 ;
易秋实 ;
叶燚 .
中国专利 :CN114585901A ,2022-06-03
[9]
样本分析仪及样本分析方法 [P]. 
易秋实 ;
叶燚 ;
李学荣 .
中国专利 :CN113670800B ,2024-04-12
[10]
样本分析仪及样本分析方法 [P]. 
刘斌 ;
寻文鹏 ;
张广朋 ;
李朝阳 ;
易秋实 ;
叶燚 .
中国专利 :CN114556081A ,2022-05-27